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鉞海電子(圖)-測試治具廠商-測試治具 :
FPC磁性治具,SMT鋁合金貼片載具,波峰焊治具測試治具的區(qū)別,CP和FT的不同點并不只是限于所在的工序期間不同,兩者在效率和功用籠蓋上都有著明顯的區(qū)別,這些信息是每一個IC從業(yè)職工需求根本了解的。
那這樣一來,咱們還需不需求CP測試?或許在CP測試期間怎么對具體測試項目進行取舍呢?要回答這個題目,咱們就必需對CP的意圖有深入的了解.那CP的意圖究竟是啥呢?
當(dāng)然,理論上在CP期間也能夠進行高速信號和高精度信號的測試,但這一般需求采用專業(yè)的高速探針計劃,如筆直針/MEMS探針等技能,這會大大增加硬件的本錢.多數(shù)情況下,測試治具,這在經(jīng)濟視點上來說是分歧算的。
按照國際慣例,首要需求再解釋一下啥是CP和FT測試.CP是(Chip Probe)的縮寫,指的是芯片在wafer的期間,就經(jīng)過探針卡扎到芯片管腳上對芯片進行機能及功用測試,有時候這道工序也被稱作WS(Wafer Sort);而FT是Final Test的縮寫,指的是芯片在封裝完結(jié)今后進行的測試,只要經(jīng)過測試的芯片才會被出貨。
測試治具的探針主要有哪幾種?
測試治具的探針主要有哪幾種?
通常ICT測試治具的探針有很多的規(guī)格,針主要是由三個部份組成:一是針管,主要是以銅合金為材料外面鍍金;二是彈簧,主要琴鋼線和彈簧鋼外面鍍金;三是針頭,主要是工具鋼(SK)鍍鎳或者鍍金,以上三個部分組裝成一種探針。
ICT測試治具的探針主要有哪幾種就分享到這里,另外不同形式的封裝選擇的探針規(guī)格也是不同的,所以為了保證探針是符合需求的,需要認(rèn)證選配符合需求的探針的型號,保證測試的順利完成。探針在IC測試中非常重要的一個部件,測試治具定做,所以在選用和購買探針的時候要多加注意,測試治具廠商,才能保證后測試的完美進行。
測試治具從自動化程序
1、手動測試,一般為夾鎖治具,直接用探針把輸入輸出引出來;
2、半自動測試,一般為氣動及MCU,可以設(shè)備自身做一些探制及量測試
3、全自動測試,在測試過程中不要任何人工參與的功能測試。
測試治具
1、MCU類功能測試機,主要以單片機控制為主的功能測試治具;
2、PLC類的功能測試機,主要針對工控類,只有時序關(guān)系的產(chǎn)品做功能測試;
3、電腦類的功能測試機,通用電腦軟件控制及讀取數(shù)據(jù)來測試產(chǎn)品性能。
1、控制器,做全面控制大腦,主要是電腦,單片機,測試治具廠家,PLC等;
2、輸入,輸出切換模塊,IOport;
3、信號源及量測模塊;
4、電源部分;
5、數(shù)據(jù)報表及數(shù)據(jù)統(tǒng)計;
6、人機界面。
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